PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2011 | nr 217 | 142--151
Tytuł artykułu

Individual Control Chart and Moving Range Chart in Comparison with Standardized Control Charts in Short Production Run

Treść / Zawartość
Warianty tytułu
Porównanie kart kontrolnych wartości indywidualnych i ruchomego rozstępu z kartami dla danych standaryzowanych dla produkcji krótkoseryjnej
Języki publikacji
EN
Abstrakty
Zaprezentowane analizy ilustrują, w jaki sposób można wykorzystać konwencjonalne karty kontrolne w wypadku krótkich serii produkcyjnych. Wiele przedsiębiorstw ma problemy z ich wdrożeniem w takiej sytuacji, bo ma wówczas mniej mierzonych detali, niż jest to wymagane do zaprojektowania karty. W artykule zaprezentowano te spośród możliwych do zastosowania szeroko stosowanych kart kontrolnych statystycznego sterowania, których modyfikacje pozwalają na szerokie praktyczne wykorzystanie. Przedstawiono kilka propozycji kontrolowania procesów krótkoseryjnych. Wartości pomiarowe, na których zaprezentowano te możliwości, pochodzą z realnych procesów produkcyjnych. Omówiono też wykorzystanie konwencjonalnych kart kontrolnych wartości indywidualnych i ruchomego rozstępu (X-mR) przy produkcji krótkoseryjnej. Ponadto zaprezentowano inne karty kontrolne oparte na danych poddanych standaryzacji. Porównano możliwości i korzyści płynące z wykorzystania kart kontrolnych wartości indywidualnych i ruchomego rozstępu w porównaniu z kartami wartości nominalnych i kart Z. (abstrakt oryginalny)
EN
This study illustrates how conventional control chart can be used and applied in companies with short production run. Many companies have difficulties with application of conventional control charts in short-run situation because short runs usually involve less than the recommended number of pieces. The article discusses about different SPC methods for short production runs and concentrates on how conventional control charts can be modified for this situation. Although there are other techniques that can be applied to the short-run scenario, this approach seems to be most widely used in practice. We have presented a few proposals of how to control the processes of short production run. Measurements have been taken directly from the process. It has been introduced the way of usage and application of conventional control chart such as X-mR in short production run. In opposite to this approach it has been presented another control charts created on the basis of standardized data. Additionally, comparative analyses have shown advantages and disadvantages the individual and moving range chart (X-mR) and standardized control charts such as difference and Z charts. (original abstract)
Rocznik
Numer
Strony
142--151
Opis fizyczny
Twórcy
  • Poznań University of Economics, Poland
  • Poznań University of Economics, Poland
Bibliografia
  • Al-Salti, M., Statham, A., 1994, The Application of Group Technology Concept for Implementing SPC in Small Batch Manufacture, International Journal of Quality & Reliability Management, vol. 11, no. 4.
  • Besterfield, D.H., 2001, Quality Control, 6th ed., Prentice Hall, New York.
  • Evans, J.R., Lindsay, W.M., 1999, The Management and Control of Quality, 4th ed., South Western College Publ., Cincinnati.
  • Kowalczyk, A., Maleszka, A., 2008, Application of Control Charts in Short Production Run, in: Sikora, T. (ed.), Conceptions of Quality Management. Experiences and Perspectives, PTTŻ, Kraków, pp. 556-564.
  • Misra, K.B., 2008, Handbook of Performability Engineering, Springer, New York.
  • Mitra, A., 1998, Fundamentals of Quality Control and Improvement, 2nd ed., Prentice Hall, New York.
  • Oakland, J.S., 2001, Statistical Process Control, 4th ed., Butterworth-Heinemann, Oxford, pp. 183-184.
  • Pyzdek, T., Keller, P.A., 2003, Quality Engineering Handbook, 2nd ed., CRC Press Company, New York.
  • Pyzdek, T., 2003, The Six Sigma Handbook, Mc Graw-Hill, New York.
  • Stamatis, D.H., 2002, Six Sigma and Beyond: Statistical Process Control, CRC Press Company, New York.
  • Yang, Ch., Chang, Ch.J., Niu, H.J., Wu, H.Ch., 2008, Increasing Detectability in Semiconductor Foundry by Multivariate Statistical Process Control, Total Quality Management & Business Exellence, vol. 19.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.ekon-element-000171215529

Zgłoszenie zostało wysłane

Zgłoszenie zostało wysłane

Musisz być zalogowany aby pisać komentarze.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.