PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Czasopismo
2015 | nr 3, CD 1 | 1237--1243
Tytuł artykułu

Stanowisko do pomiarów charakterystyk paneli fotowoltaicznych z wykorzystaniem LabView

Autorzy
Warianty tytułu
The measurement appliance for characteristics of photovoltaic panels using LabView system
Języki publikacji
PL
Abstrakty
W pracy przedstawiono stanowisko do badania charakterystyk paneli fotowoltaicznych. Sterowanie stanowiska zrealizowano za pomocą LabVIEW. Przedstawiono cel budowy, oraz uzasadniono wybór platformy sprzętowej. Przedstawiono miejsce języka graficznego użytego do budowy algorytmu w piramidzie abstrakcji języków programowania systemów pomiarowych. Opisano schemat blokowy stanowiska oraz przebieg pomiarów. Zawarto również przykładowe parametry wybranego panelu podlegającego pomiarom. Zaproponowano projekt panelu frontowego i opisano wszystkie wymagane funkcjonalności znajdujące się na ekranie. W odrębnym rozdziale opisano przebieg sterowania. Wymieniono główne elementy diagramu sterującego omówiono ich działanie a także przebieg sygnałów. W podsumowaniu odniesiono się do zalet i wad programowania graficznego systemów pomiarowych. Przedstawiono także możliwe zastosowania opracowanego stanowiska. (abstrakt oryginalny)
EN
The paper presents a appliance to examine the characteristics of photovoltaic panels. Position control implemented using LabVIEW. A goal of building is presented and justified the choice of hardware platform. Presented place the graphic language in the programming languages pyramid abstraction, used to build algorithm measurement systems. Block diagram describes the position and course of measurements. It also contains examples of parameters selected panel subject to measurement. Front panel design is proposed and described all the required functionality provided on the screen. In a separate section describes the control flow. The major elements of the diagram describes the operation of the control and signal routing. In conclusion, reference is made to the advantages and disadvantages of graphical programming measuring systems. Also shows the possible applications developed appliance. (original abstract)
Czasopismo
Rocznik
Numer
Strony
1237--1243
Opis fizyczny
Twórcy
autor
  • Uniwersytet Technologiczno-Humanistyczny w Radomiu
Bibliografia
  • Bitter R. Mohiuddin T. Nawrocki M., LabVIEW Advanced Programming Techniques. Second Edition. CRC Press. New York 2007. ISBN 10: 0 8493 3325 3
  • National Instruments LabVIEW US Corporate Headquarter USA Austin Texas. 2008.
  • Figura R., Laboratorium Fotowoltaiki - baza badawczo-dydaktyczna dla przemysłu, "Logistyka" 6/14.
  • Noty aplikacyjne NI - http://www.ni.com/data-acquisition/
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.ekon-element-000171412365

Zgłoszenie zostało wysłane

Zgłoszenie zostało wysłane

Musisz być zalogowany aby pisać komentarze.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.