Badanie stopnia zdefektowania struktury szkieł z układu SiO₂-BaO-K₂O-NaF za pomocą metody badań czasów życia pozytonów PALS

• Autorzy: Katarzyna Kotynia , Jacek Filipecki , Edmund Golis , Manuela Reben , Jan Wasylak

Warianty tytułu

Investigation of the Structure of SiO₂-BaO-K₂O-NaF Glass System by Means of Positron Lifetime Measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

Próbki szkieł tlenkowo-fluorkowych z układu SiO₂-BaO-K₂O-NaF o różnych składach chemicznych poszczególnych komponentów, zostały zbadane metodą spektroskopii czasów życia pozytonów PALS. W oparciu o model Tao-Eldrupa oszacowano rozmiary, występowanie oraz ilości wolnych objętości w tych materiałach. Przeprowadzone badania wykazały istnienie trzech składowych τ₁, τ₂ i τ₃. Składowa τ₁ jest odpowiedzialna za anihilację swobodną pozytonów i anihilację z elektronami defektów punktowych typu wakans. Składowa τ₂ związana jest z występowaniem defektów objętościowych powstających na granicach międzyziarnowych, dyslokacji lub skupisk wakansów. Składowa τ₃ przypisywana jest do anihilacji pick-off pułapkowanie o-Ps przez wolne objętości. Wszystkie występujące wolne objętości w badanych próbkach nie posiadały tych samych rozmiarów. (abstrakt oryginalny)

EN

Positron lifetime spectroscopy PALS has been applied to the investigation of the structure of glass samples from the SiO₂-BaO-K₂O-NaF glass system. From the Tao-Eldrup formula the occurrence and size of the free volume of investigated glasses was calculated. Three components of the positron lifetime τ₁, τ₂ and τ₃ were obtained. The τ₁ component is responsible for the annihilation of free positrons and the annihilation of electrons vacancy-type of defects. The intermediate lifetime τ₂ corresponds to the annihilation of free positrons with electrons in the bulk material and positron trapping modes, τ₃ corresponds to the pick-off annihilation of o-Ps trapped by free volumes The size of all free volume were different in all studied glasses. (original abstract)

Słowa kluczowe

PL

Wyroby szklane; Badania właściwości fizycznych

EN

Glassware products; Physical properties research

• Czasopismo: Szkło i Ceramika
• Rocznik: 2012
• Numer: nr 4
• Strony: 12--17

Twórcy

autor

Katarzyna Kotynia

• Akademia im. Jana Długosza w Częstochowie

autor

Jacek Filipecki

• Akademia im. Jana Długosza w Częstochowie

autor

Edmund Golis

• Akademia im. Jana Długosza w Częstochowie

autor

Manuela Reben

• AGH Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

autor

Jan Wasylak

• AGH Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

Bibliografia

• R. Zallen, Fizyka ciał amorficznych, PWN, Warszawa 1994
• J. Filipecki, Zjawiska elektronowe w żelazo- niklowych stopach o strukturze amorficznej i polikrystalicznej, WSP, Częstochowa 1983.
• J. Dryzek, Badania defektów sieci krystalicznej metodą anihilacji pozytonów, Uniwersytet Jagieloński, Kraków 1994.
• S.J. Tao, J.Chem.Phys. 56, 5499 (1972).
• M. Eldrup, D. Lighbody, J.N. Sherwood, Positron annihilation in polymers, Chem. Phys. 63 (1981) 51-62.
• B. Ziemba, Technologia szkła, tom 1, Wydawnictwo Arkady, Warszawa 1987.
• J.Filipecki, A.Kocela, P.Korzekwa, K.Filipecka, E.Golis, W.Korzekwa, Investigation of free volume changes in the structure of the polymer bifocal contact lenses using positron lifetime spectroscopy PALS, Polymers in Medicine 41, 13-21 (2011).
• J. Kansy, Microcomputer program for analysis of positron annihilation lifetime spectra, Nucl. Instr. and Meth. Phys. Res. A 374, 235-244 (1996).